Микроскоп предназначен для исследования объектов в поляризованном и обычном свете.
В проходящем свете изучают геологические шлифы, тонкие анизотропные биологические и полимерные объекты.
В отраженном свете исследуют непрозрачные аншлифы с отполированной одной стороной. Толщина аншлифа произвольная, обычно 5–10 мм. Микроскоп позволяет изучать непрозрачные объекты толщиной до 15 мм.
Объективы микроскопа свободны от внутренних напряжений. В промежуточном тубусе установлены анализатор и линза Бертрана, есть слот для установки компенсаторов.
Микроскоп используется в кристаллографии, петрографии, минералогии, криминалистике, медицине и других областях науки.